介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要特點(diǎn)及參數(shù)

介損測(cè)量是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。在電工制造、電氣設(shè)備安裝、交接和預(yù)防性試驗(yàn)中都廣泛應(yīng)用。變壓器、互感器、電抗器、電容器以及套管、避雷器等介損的測(cè)量是衡量其絕緣性能的*基本方法。突破了傳統(tǒng)的電橋測(cè)量方式，采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)、和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；電源采用大功率開(kāi)關(guān)電源，輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，可提供*高10千伏的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測(cè)量。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要特點(diǎn)及參數(shù)

1、使用本儀器前一定要認(rèn)真閱讀本手冊(cè)。

2、儀器的操作者應(yīng)具備一般電氣設(shè)備或儀器的使用常識(shí)。

3、本儀器戶(hù)內(nèi)外均可使用，但應(yīng)避開(kāi)雨淋、腐蝕氣體、塵埃過(guò)濃、高溫、陽(yáng)光直射等場(chǎng)所使用。

4、儀表應(yīng)避免劇烈振動(dòng)。

5、對(duì)儀器的維修、護(hù)理和調(diào)整應(yīng)由專(zhuān)業(yè)人員進(jìn)行。

6、在任何接線(xiàn)之前必須用接地電纜把儀器接地端子與大地可靠連接起來(lái)。

7、由于測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生高電壓，所以測(cè)試人員必須完全嚴(yán)格遵守**操作規(guī)程，防止他人接觸高壓部件和電路。直接從事測(cè)試的人員必須完全了解高壓測(cè)試線(xiàn)路，及儀器操作要點(diǎn)。非從事測(cè)試人員必須遠(yuǎn)離高壓測(cè)試區(qū)，測(cè)試區(qū)必須用柵欄或繩索、警視牌等清楚表示出來(lái)。

8、儀器的調(diào)整維修和維護(hù)，必須在不加電情況下進(jìn)行，如果必須加電，則操作者必須非常熟悉本儀器高壓危險(xiǎn)部件。

9、保險(xiǎn)管損壞時(shí)，必須確保更換同樣的保險(xiǎn)，禁止更換不同型號(hào)保險(xiǎn)或?qū)⒈ｋU(xiǎn)直接短路使用。

10、儀器出現(xiàn)故障時(shí)，關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，等待一分鐘之后再檢查。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要特點(diǎn)及參數(shù)

1、儀器可測(cè)量下列參數(shù)并數(shù)字顯示：

2、被測(cè)試品的電容量值CX，以pF或nF為單位，1nF=1000pF。

3、被測(cè)試品的介質(zhì)損耗值tgδ，以%顯示。

介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要特點(diǎn)及參數(shù)

1、儀器采用復(fù)數(shù)電流法，測(cè)量電容、介質(zhì)損耗及其它參數(shù)。測(cè)試結(jié)果精度高，便于實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。

2、儀器采用了變頻技術(shù)來(lái)消除現(xiàn)場(chǎng)50Hz工頻干擾，即使在強(qiáng)電磁干擾的環(huán)境下也能測(cè)得可靠的數(shù)據(jù)。

3、儀器采用大屏幕液晶顯示器，測(cè)試過(guò)程通過(guò)漢字菜單提示既直觀又便于操作。

4、儀器操作簡(jiǎn)便，測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

5、一體化機(jī)型，內(nèi)附標(biāo)準(zhǔn)電容和高壓電源，便于現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，減少現(xiàn)場(chǎng)接線(xiàn)。

6、儀器測(cè)量準(zhǔn)確度高，可滿(mǎn)足油介損測(cè)量要求，因此只需配備標(biāo)準(zhǔn)油杯，和專(zhuān)用測(cè)試線(xiàn)即可實(shí) 現(xiàn)油介損測(cè)量。

7、設(shè)CVT測(cè)試功能，可實(shí)現(xiàn)CVT的自激法測(cè)試，無(wú)需外置附件，只需一次測(cè)量，C1,C2的電容和介損全部測(cè)出。

8、反接線(xiàn)測(cè)試采用ivddv技術(shù),消除了以往反接線(xiàn)數(shù)據(jù)不穩(wěn)定的現(xiàn)象。

9、具有反接線(xiàn)低壓屏蔽功能，在220kV CVT 母線(xiàn)接地情況下，對(duì)C11 可進(jìn)行不拆線(xiàn)10kV 反接線(xiàn)介損測(cè)量

10、具有測(cè)量高電壓介損功能，能夠使用高壓變壓器或串聯(lián)諧振進(jìn)行超過(guò)10kV電壓的介損試驗(yàn)。

11、接地保護(hù)功能，當(dāng)儀器不接地線(xiàn)或接地**時(shí)，儀器不進(jìn)入正常程序，不輸出高壓。過(guò)流保護(hù)功能，在試品短路或擊穿時(shí)儀器不受損壞。

12、觸電保護(hù)功能，當(dāng)儀器操作人員不小心觸電時(shí)候，儀器會(huì)立即切斷高壓，保障試驗(yàn)人員的**.

介質(zhì)損耗測(cè)試儀主要特點(diǎn)及參數(shù)

1、準(zhǔn)確度：Cx:    ±（讀數(shù)×1%+1pF）

tgδ:  ±（讀數(shù)×1%+0.00040）

2、抗干擾指標(biāo)：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度

3、電容量范圍：內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV    60pF～1μF/0.5kV

外施高壓：3pF～1.5μF/10kV     60pF～30μF/0.5kV

4、分辨率：*高0.001pF，4位有效數(shù)字

5、tgδ范圍：不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動(dòng)識(shí)別。

6、試驗(yàn)電流范圍：10μA～1A

7、內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV

8、*大輸出電流：200mA

9、升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)

10、試驗(yàn)頻率： 45、50、55、60、65Hz單頻

45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動(dòng)雙變頻

11、頻率精度：±0.01Hz

12、外施高壓：正接線(xiàn)時(shí)*大試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz

反接線(xiàn)時(shí)*大試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz

13、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A

14、CVT變比測(cè)量：

變比測(cè)量精度：±讀數(shù)×1%  ；變比測(cè)量范圍：10～99999

15、相位測(cè)量精度：±0.1°；相位測(cè)量范圍：0～359.9°

16、測(cè)量時(shí)間：約40s，與測(cè)量方式有關(guān)

17、輸入電源：180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電

18、計(jì)算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口

19、打印機(jī)：煒煌A7熱敏微型打印機(jī)

20、環(huán)境溫度：    -10℃～50℃

21、相對(duì)濕度：    <90%

22、外形尺寸：460×360×350mm

23、儀器重量：28kg

六、測(cè)量方式及原理

按被測(cè)試品是否接地分兩種測(cè)量方式，即正接線(xiàn)測(cè)量方式和反接線(xiàn)測(cè)量方式。兩種測(cè)量方式的原理如圖一所示：

在高壓電源的10kV側(cè)，高壓分兩路，一路給機(jī)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容C_N，此電容介損非常小，可以認(rèn)為介損為零，即為純?nèi)菪噪娏?，此電流I_CN 可做為容性電流基準(zhǔn)。在Cx試品一側(cè)，試品電流Icx通過(guò)采樣電阻R采入機(jī)內(nèi)，此Icx可分解成水平分量和垂直分量見(jiàn)圖二所示，通過(guò)計(jì)算水平分量與垂直分量的比值即可得到tgδ值。

在圖一（a）中Cx為非接地試品，試品電流Icx從試品末端進(jìn)入采樣電阻R，得到全電流值，在圖一（b）中Cx為接地試品，機(jī)內(nèi)Cx端直接接地，電流Icx從試品高壓端到機(jī)內(nèi)采樣電阻取得全電流值。

七、常見(jiàn)設(shè)備的接線(xiàn)方法

1．儀器引出端子說(shuō)明：

HV ——  儀器的測(cè)量引線(xiàn)高壓端（帶危險(xiǎn)電壓） 。

CX ——  正接線(xiàn)時(shí)試品電流輸入端。

——  儀器的接地端，使用時(shí)與大地可靠相接

2.參考接線(xiàn)

2.1正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)正接線(xiàn)）：

2.2反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓（常規(guī)反接線(xiàn)）

2.3正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.4反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、內(nèi)高壓：

2.5正接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.6反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.7正接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓（高電壓介損）

2.8反接線(xiàn)、外標(biāo)準(zhǔn)電容、外高壓：

2.9  CVT自激法測(cè)量：

CVT自激法可按下圖接線(xiàn)。如果C₁是單節(jié)電容，母線(xiàn)不能接地；如果C₁是多節(jié)電容，母線(xiàn)可接地，C₁₁和C₁₂可用常規(guī)正反接線(xiàn)測(cè)量，C₁₃和C₂用自激法測(cè)量。

CVT自激法測(cè)量中，儀器先測(cè)量C₁，然后自動(dòng)倒線(xiàn)測(cè)量C₂，并自動(dòng)校準(zhǔn)分壓影響。

應(yīng)注意，高壓線(xiàn)應(yīng)懸空不能接觸地面，否則其對(duì)地附加介損會(huì)引起誤差，可用細(xì)電纜連接高壓插座與CVT試品并吊起。強(qiáng)烈建議使用高壓插座使用的高壓線(xiàn)用黑色Cx線(xiàn)。

2.10 CVT變比測(cè)試

儀器高壓線(xiàn)的芯線(xiàn)紅夾子接CVT的上端，母線(xiàn)拆地。CVT下端接地，低壓線(xiàn)紅黑夾子接二次繞組，注意:如果測(cè)試角度接近180度，應(yīng)將紅黑夾子顛倒。

3.附加功能

3.1光標(biāo)在 電壓：10kV上面時(shí)候，按“確認(rèn)”鍵在儀器屏幕的左下角會(huì)出現(xiàn)圖標(biāo)，代表測(cè)試結(jié)束自動(dòng)打印。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表測(cè)試結(jié)束必須手動(dòng)才能打印。

3.2光標(biāo)在 反接 上面時(shí)候，在反接線(xiàn)，內(nèi)Cn，內(nèi)Un，情況下，按確認(rèn)鍵在儀器屏幕右下角會(huì)出現(xiàn)圖標(biāo)，代表反接線(xiàn)低壓屏蔽測(cè)試。如果再按確認(rèn)鍵，圖標(biāo)消失，代表取消反接線(xiàn)低壓屏蔽。

反接線(xiàn)低壓屏蔽功能，一次接線(xiàn)可同時(shí)測(cè)出C1和C2的電容量和介損

在反接線(xiàn)、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)和內(nèi)高壓方式，光標(biāo)移到“反接”處，按“確認(rèn)”右下角顯示“M”。

打開(kāi)反接線(xiàn)低壓屏蔽，可在上端電容C1不拆母線(xiàn)的情況下，對(duì)其進(jìn)行不拆線(xiàn)10kV反接線(xiàn)介損測(cè)量。如下圖所示：母線(xiàn)掛地線(xiàn)，C1上端不拆線(xiàn)，C1下端接高壓線(xiàn)芯線(xiàn)，C2末端接Cx芯線(xiàn)。儀器采用反接線(xiàn)/10kV/M測(cè)量方式，可同時(shí)測(cè)出C11和下端屏蔽部分的電容量和介損值。

3.3光標(biāo)在 正接 上面時(shí)候，按確認(rèn)鍵則測(cè)試打印機(jī)，換紙。

3.4光標(biāo)在 啟動(dòng) 上面時(shí)候，按減小鍵則代表取出存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。

3.5測(cè)試完畢，如果按減小鍵，則代表存儲(chǔ)測(cè)試的數(shù)據(jù)

八、儀器功能簡(jiǎn)介

儀器面板見(jiàn)圖九所示：

1. 打印機(jī)——打印測(cè)量數(shù)據(jù)。

2. 顯示器——128×64點(diǎn)陣液晶顯示器，顯示菜單和各種提示信息及測(cè)量結(jié)果。

3. 鍵——選擇菜單項(xiàng)，被選中項(xiàng)反白字體顯示。

4. ▲  鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

5. ▼ 鍵——修改菜單內(nèi)容，采用循環(huán)滾動(dòng)方式。

6. 確認(rèn)鍵——在“測(cè)試”選項(xiàng)上按此鍵進(jìn)入測(cè)試狀態(tài)。

7. 電源開(kāi)關(guān)——整機(jī)電源的開(kāi)啟和關(guān)閉。

8. 電源座——交流220V±10%，50±1Hz電源輸入口，帶保險(xiǎn)倉(cāng)。

9. 自激法電流輸出端——測(cè)量CVT的專(zhuān)用端子。

10. 地——為接地線(xiàn)接線(xiàn)端子。

11. C_X插座——是試品信號(hào)的測(cè)量輸入端，正接線(xiàn)時(shí)由專(zhuān)用低壓電纜連接，此電纜單層屏蔽帶特制鱷魚(yú)夾，長(zhǎng)8m，接試品低端。反接線(xiàn)時(shí)此端空置。

12. C_N插座——是外標(biāo)準(zhǔn)電容信號(hào)的測(cè)量輸入端，使用內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)時(shí)此端空置。

13. HV插座——高壓引出端子，由高壓電纜連接，接試品高壓端。輸出10kv高壓。

14. RS-232接口，用來(lái)連接電腦，上傳數(shù)據(jù)。

九、儀器操作步驟

1．測(cè)量前準(zhǔn)備：

1、用接地線(xiàn)一端接儀器的接地柱，另一端接可靠的大地，保證儀器外殼處在地電位上

2、正接線(xiàn)時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中，將另一端的紅色大鉗子到被測(cè)試品的**引線(xiàn)上，黑色小鉗子懸空或夾在紅色大鉗子上。將C_X低壓電纜插入C_X插座中，另一端的紅色夾子夾試品的低端，黑色夾子懸空或接屏蔽裝置

3、反接線(xiàn)時(shí)：將高壓電纜插頭插入后門(mén)HV插座中，將另一端的紅色大鉗子夾到被測(cè)試品的**引線(xiàn)上，紅色小鉗子懸空或接屏蔽裝置。Cx插座不用。

2．打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，儀器進(jìn)行自檢，若自檢良好，液晶屏顯示中文主菜單如圖十所示。

3．菜單選擇：

1. 按鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng)，并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見(jiàn)圖十一所示。

2. 在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目，按▼ ▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更，并循環(huán)指示，流程見(jiàn)圖十二所示。

3. 將菜單變更至與測(cè)試要求相對(duì)應(yīng)后即可按選擇鍵進(jìn)行下個(gè)項(xiàng)目的選擇。

4、 頻率：光標(biāo)在頻率上，按↑↓鍵選擇定頻和變頻：

光標(biāo)在定頻上：按住“啟?！辨I1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示45Hz / 47.5Hz / 50Hz / 52.5Hz / 55Hz / 60Hz / 65Hz

工頻50Hz測(cè)量，此設(shè)置不能抗干擾，在試驗(yàn)室內(nèi)測(cè)量或校驗(yàn)時(shí)選用50Hz，“45/47.5/55/52.5/60/65Hz”：為單頻率測(cè)量，研究不同頻率下介損的變化時(shí)選用。

光標(biāo)在變頻上：按住“啟停”鍵1s以上切換到全頻率選擇，按↑↓鍵循環(huán)顯示5-Hz / 6-Hz / 4-Hz”：

“5-Hz”：為45/55Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“6-Hz”：為55/65Hz自動(dòng)變頻，適合60Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

“4-Hz”：為47.5/52.5Hz自動(dòng)變頻，適合50Hz電網(wǎng)工頻干擾下測(cè)量。

5、測(cè)試：當(dāng)光標(biāo)在 測(cè)試 項(xiàng)目上時(shí)，按確認(rèn)鍵大約3秒鐘開(kāi)始測(cè)試。測(cè)試過(guò)程中顯示的畫(huà)面如圖十三（正接線(xiàn)，變頻）所示，當(dāng)下面的進(jìn)程到100%時(shí)候測(cè)試完畢，然后顯示測(cè)量結(jié)果見(jiàn)圖十四所示，此時(shí)光標(biāo)指示打印機(jī)圖標(biāo)，按確認(rèn)鍵打印報(bào)告。測(cè)量結(jié)果的意義如下：

tgδ： 試品的損耗因數(shù)tgδ值

CX： 測(cè)量的電容值

V：施加電壓值

I：試品流過(guò)的電流

F1,F2 : 試驗(yàn)頻段

打印結(jié)束后，關(guān)閉電源開(kāi)關(guān)，測(cè)試完畢。

十、現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)注意事項(xiàng)

如果使用中出現(xiàn)測(cè)試數(shù)據(jù)明顯不合理，請(qǐng)從以下方面查找原因：

1、搭鉤接觸**

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量使用搭鉤連接試品時(shí)，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點(diǎn)放電會(huì)引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)！尤其是引流線(xiàn)氧化層太厚，或風(fēng)吹線(xiàn)擺動(dòng)，易造成接觸**。

2、接地接觸**

接地**會(huì)引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動(dòng)。應(yīng)刮凈接地點(diǎn)上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

3、直接測(cè)量CVT或末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT

直接測(cè)量CVT的下節(jié)耦合電容會(huì)出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。

用末端屏蔽法測(cè)量電磁式PT時(shí)，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線(xiàn)端子盤(pán)即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測(cè)量。

4、空氣濕度過(guò)大

空氣濕度大使介損測(cè)量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時(shí)可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場(chǎng)分布，此法有爭(zhēng)議，可參照有關(guān)規(guī)程。

5、發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時(shí)輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。

6、測(cè)試線(xiàn)

由于長(zhǎng)期使用，易造成測(cè)試線(xiàn)隱性斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽短路，或插頭接觸**，用戶(hù)應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測(cè)試線(xiàn)；

測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時(shí)，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測(cè)量CVT時(shí)，非專(zhuān)用的高壓線(xiàn)應(yīng)吊起懸空，否則對(duì)地附加雜散電容和介損會(huì)引起測(cè)量誤差。

7、工作模式選擇

接好線(xiàn)后請(qǐng)選擇正確的測(cè)量工作模式（正、反和CVT），不可選錯(cuò)。特別是干擾環(huán)境下應(yīng)選用變頻抗干擾模式。

8、試驗(yàn)方法影響

由于介損測(cè)量受試驗(yàn)方法影響較大，應(yīng)區(qū)分是試驗(yàn)方法誤差還是儀器誤差。出現(xiàn)問(wèn)題時(shí)可首先檢查接線(xiàn)，然后檢查是否為儀器故障。

9、儀器故障

用萬(wàn)用表測(cè)量一下測(cè)試線(xiàn)是否斷路，或芯線(xiàn)和屏蔽是否短路；輸入電源220V過(guò)高或過(guò)低；接地是否良好。

用正、反接線(xiàn)測(cè)一下標(biāo)準(zhǔn)電容器或已知容量和介損的電容試品，如果結(jié)果正確，即可判斷儀器沒(méi)有問(wèn)題；

拔下所有測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)，進(jìn)行空試升壓，若不能正常工作，儀器可能有故障。

啟動(dòng)CVT測(cè)量后測(cè)量低壓輸出，應(yīng)出現(xiàn)2～5V電壓，否則儀器有故障。

十一、儀器檢定

1、用標(biāo)準(zhǔn)損耗器檢定

用帶插頭的屏蔽電纜連接標(biāo)準(zhǔn)損耗器。如果不能保證標(biāo)準(zhǔn)損耗器的精度，應(yīng)使用比對(duì)法檢定，建議用2801電橋或其它精密電橋作比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)。儀器應(yīng)選用“內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)”和“RC串聯(lián)試品”，可選擇工頻 50Hz或定頻50Hz頻率模式。

2、用QSJ3檢定：使用帶插頭的屏蔽電纜連接QSJ3，選擇“正接/ 外Cn / 外Un式測(cè)量，電流比為Cx∶Cn，Cn可置入適當(dāng)值。

3、抗干擾能力

設(shè)置一個(gè)回路向儀器注入定量的干擾電流。

注意：

1）應(yīng)考慮到該回路可能成為試品的一部分。

2）儀器啟動(dòng)后會(huì)使220V供電電路帶有測(cè)量頻率分量，如果該頻率分量又通過(guò)干擾電流進(jìn)入儀器，則無(wú)法檢驗(yàn)儀器的抗干擾能力。

3）不建議用臨近高壓導(dǎo)體施加干擾，因?yàn)檫@樣很容易產(chǎn)生近距離**放電，這種放電電阻是非線(xiàn)性的，容易產(chǎn)生同頻干擾。

十二、變頻測(cè)量討論

1、變頻測(cè)量

干擾十分嚴(yán)重時(shí)，變頻測(cè)量能得到準(zhǔn)確可靠的結(jié)果。例如用55Hz測(cè)量時(shí)，測(cè)量系統(tǒng)只允許55Hz信號(hào)通過(guò)，50Hz干擾信號(hào)被有效抑制，原因在于測(cè)量系統(tǒng)很容易區(qū)別不同頻率，由下述簡(jiǎn)單計(jì)算可以說(shuō)明選頻測(cè)量的效果：

兩個(gè)頻率相差1倍的正弦波疊加到一起，高頻的是干擾，幅度為低頻的10倍：

Y=1.234sin(x+5.678°)+12.34sin(2x+87.65°)

在x=0/90/180/270°得到4個(gè)測(cè)量值

Y0=12.4517，Y1= -11.1017，Y2=12.2075，Y3= -13.5576，

計(jì)算A=Y1-Y3=2.4559，B=Y0-Y2=0.2442，則：

φ=tg-1(B/A)=5.678°    V=  A2+B2/2=1.234

這剛好是低頻部分的相位和幅度，干擾被抑制。實(shí)際波形的測(cè)量點(diǎn)多達(dá)數(shù)萬(wàn)，計(jì)算量很大，結(jié)果反映了波形的整體特征。

2、頻率和介損的關(guān)系

介損有RC串聯(lián)和并聯(lián)兩種理想模型：串聯(lián)模型tgδ=2πfRC，并聯(lián)模型tgδ=1/(2πfRC)，tgδ分別隨頻率f成正比和反比。如圖所示，f對(duì)完全正比和完全反比兩種模型影響較大。但實(shí)際電容器是多種模型交織的混合模型，此時(shí)f的影響就小。

3、自動(dòng)變頻與50Hz等效

儀器采用自動(dòng)變頻在干擾頻率50Hz兩側(cè)（45Hz和55Hz）各測(cè)一個(gè)點(diǎn)，然后推算50Hz頻率下數(shù)據(jù)。除多個(gè)元件電路的低頻諧振外，單個(gè)試品中的介質(zhì)不可能在低頻引起能量吸收峰，工頻附近介損總是隨頻率單調(diào)變化的。因此這種測(cè)量方法不會(huì)帶來(lái)明顯誤差。實(shí)際上，平均前的兩個(gè)介損值已十分接近，即使不平均也完全有參考價(jià)值。目前，變頻介損儀已成為介損測(cè)量的常規(guī)儀器，其優(yōu)異的抗干擾能力和準(zhǔn)確度已經(jīng)得到認(rèn)可。

十三、儀器的裝箱清單